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전체게시물 총 60건

장비
LED Measurement Set
장비이름
[Measurement & Analysis]LED Measurement Set
1.특징
? Wavelength Range : 380~780 nm
? Optional Wavelength : consult factory
? Wavelength Accuracy : ±0.5nm
? Current : 0~3A
? Voltage : 0~60V
? LED wafer level 측정용
  • 제작사 Optronic Laboratories, Inc.
  • 모델명 700-30
  • 도입연도 2004-03-10
  • 용도 LED 웨이퍼레벨 광출력 측정 장비
Digital Oscilloscope
장비이름
[Measurement & Analysis]Digital Oscilloscope
? Acquisition Channel : 2Ch(Optical) 4Ch(Electrical)
? Waveform Acquisition Rate : 150Ks/s
? Record Length : 4000 points
? Vertical Resolution : 14 bits over the sampling module.
? Timebase Jitter : 800fs (200fs with phase ref. module)
? OS System & Display : Window XP & 8.4 inch LCD
? All Optical ModuleEffectiveWavelengthRange:700-1650nm
? Included data filter rates : 13 filter
  • 제작사 Tektronix
  • 모델명 DSA8200
  • 도입연도 2008-04-30
  • 용도 RF 장비로부터 발생하는 다양한 신호의 계측
BER Tester
장비이름
[Measurement & Analysis]BER Tester
1. OperationFrequencyRange:100Mto12.5bps
2. Data input
? Input waveform : NRZ
? Input amplitude : 0.1 to 2.0 Vp-p
? Threshold voltage variable range : -3.5 to +3.3Vp-p(1mV steps)
? Phase margin : ?60ps(typical value at 12.5 Gb/s PRBS 231-1)
? Input Sensitivity : 10mVp-p
? Termination : 50ohm
? Termination voltage : -2.5 to 3.5V/10 mV step
? Connector : SMA
3. Clock input
? Input waveform : Rectangular wave(<0.5GHz) Rectangular or sine wave (≥0.5GHz)
? Input voltage : 0.25 to 2.0Vp-p
? Termination Voltage : -2.5 to 3.5V/ 10mV step
? Connector : SMA
4.Receive Pattern
? Pseudorandom binary sequence pattern(PRBS)
- Pattern : 2n-1(n:791115202331)
- Mark ratio : 1/2 1/4 1/8 0/8(3/4 7/8 8/8 are possible with logic
inversion)
? Data pattern length : 2 to 134217728 bits/CH
? Zero substitution pattern
- zero bit length : 1 to (pattern length-1) bit
- pattern length: 2n(n:7911152023)
? Detection Item: Total Error Insertion Error Omission Error Transition
Error Non-Tran
  • 제작사 Anritsu
  • 모델명 모델명 없음
  • 도입연도 2008-04-30
  • 용도 비트 에러 레이트 측정
LD Tester
장비이름
[Measurement & Analysis]LD Tester
특징
1) 칩 및 TO-패키지 TOSA DC 측정
2) 레이저 다이오드의 전류에 따른 광파워-전압특성곡선
(Light-Current-Voltage Curve)
3) 레이저 다이오드의 전류와 온도에 따른 광파워-전압특성곡선
(Light Power-Current-Voltage-Temp. Curve)
4) 레이저 광의 파장특성 (SMSR half-width evaluation WDM waveform)
5) 넓은 파장범위내의 특성평가 가능 (600nm~1700nm)
6) 광 펄스 특성
7) 원거리 빔 형태 특성 및 분석 (빔 형태 빔 사이즈)
8) 레이저 빔의 편광 측정 : Piece 2" ~ 6"
9) 장비 조절 : 반자동 동작 이상

Component (구성품의 종류 및 수량)
- Semiconductor Characterization System
- 6“ Manual Probe station(Temperature Controller 포함)
- Optical Power meter & Detector
- OSA (Optical Spectrum Analyzer)
- Laser Beam Profiler (Far Field Pattern)
- Polarization Filter
- Optical Component
  • 제작사 일렉스
  • 모델명 LD Tester
  • 도입연도 2007-02-13
  • 용도 레이저 다이오드의 전류에 따른 광파워-전압특성곡선
Pulse Pattern Generator
장비이름
[Measurement & Analysis]Pulse Pattern Generator
특징

1) Operating Bit rate : 100M to 12.5 Gbps

2) Pattern
-Pseudorandom binary sequence pattern
-Pattern : 2n- 1 (n: 7 9 11 15 20 23 31)
-Mark ratio : 1/2 1/4 1/8 0/8 (3/4 7/8 8/8 are possible with logic inversion)
-Data pattern length : 2 to 134217728 bits/ch
-Sequence Pattern-BLOCK Count : 1 to 128
-Block length: 8192 to 1048576 bits Steps:128bits
-Loop count :1to1024times Repeat
-Block Transition Conditions: A pattern match B pattern match Manual
Loop Time complete External trigger (rising edge)
-Next destination : Specified Block No or Stop

3) Data output
- Number of Outputs : 2(Data/Data)
- Amplitude : 0.25 to 2.5Vp-p
- Offset voltage : VoH : -2 to +3.3V 1mV steps
- Rise/fall time : ≤28ps(20% to 80%) typical
- Pattern jitter : ?10ps max.
- Load impedance : 50 ohm
- Connector : SMA or K
- Phase setting range: -1 to +1UI steps: 1mUI

4) Clock output
- Number of outputs : 22(Clock/Clock)
- Amplitude : 0.25V to 0.9V max.
- Rise/fall time : ≤30ps(20% to 80% of amplitude) tipical
- Connector : SMA or K
  • 제작사 ANRITSU
  • 모델명 ANRITSU
  • 도입연도 2008-04-30
Semiconductor Tester(Curve Tracer)
장비이름
[Measurement & Analysis]Semiconductor Tester(Curve Tracer)
? Maxixmum voltage : 2000V 가능,
? Maximum current : 50A 측정 가능,
? Resolution : 0.1nA and 0.1mV,
? standard curves : MOSFET, IGBT, Diode, Zener, Triac 측정 가능
  • 제작사 Scientific Test, Inc.
  • 모델명 5000C
  • 도입연도 2017-04-28
  • 용도 고전압에서의 leakage current 및 Breakdown Voltage 측정, 저전압에서 turn on voltage 측정